產(chǎn)品型號(hào)：HCYD-800

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-06-03

產(chǎn)品簡介：

華測(cè)儀器-壓電材料靜態(tài)壓電系數(shù)測(cè)試儀

一、壓電材料應(yīng)用與分類：

 壓電材料分為壓電單晶體，多晶體壓電陶瓷、高分子壓電材料及聚合物-壓電陶瓷復(fù)合材料四類。由于其具有不同的工藝及應(yīng)用特點(diǎn)，因此應(yīng)用領(lǐng)域各有不同。在這四類壓電材料中，壓電陶瓷占據(jù)有相當(dāng)大的比重，也是目前市場(chǎng)上應(yīng)用廣泛的壓電材料。

　?。?）壓電單晶體：石英、水溶性壓電晶體（酒石酸鉀鈉、酒石酸乙烯二銨、酒石酸二鉀、硫酸鉀等）；

　?。?）多晶體壓電陶瓷：代表性的壓電陶瓷有鈦酸鋇壓電陶瓷、鋯鈦酸鉛系壓電陶瓷、鈮酸鹽系壓電陶瓷和鈮鎂酸鉛壓電陶瓷等；

　　（3）高分子壓電材料：極性高分子材料如聚偏氟乙烯，其具有低聲學(xué)阻抗特性，柔韌性良好，可以制作極薄的組件。但同時(shí)也存在壓電參數(shù)小、極化電場(chǎng)高的缺點(diǎn)；

　?。?）聚合物-壓電陶瓷復(fù)合材料：柔韌性良好，可制作極薄的組件，壓電陶瓷的加入可以改善高分子壓電材料壓電常數(shù)小、極化電場(chǎng)高的缺點(diǎn)。

　　壓電材料的晶體結(jié)構(gòu)可分為鈣鈦礦結(jié)構(gòu)、鎢青銅結(jié)構(gòu)、鉍層狀結(jié)構(gòu)等。

二、華測(cè)儀器-壓電材料靜態(tài)壓電系數(shù)測(cè)試儀儀器簡介：

    可以分析被測(cè)樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時(shí)間變化的曲線。通過軟件將這些變化曲線的溫度譜、時(shí)間譜等集成一體并進(jìn)行分析測(cè)量并可以直接得出樣品的壓電溫譜圖。對(duì)試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測(cè)量，可廣泛用于鐵電、壓電材料（壓電陶瓷、高分子）以及相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試。

    華測(cè)儀器-壓電材料靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀可測(cè)量壓電材料的介電常數(shù)、居里溫度、熱釋電系數(shù)、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33、機(jī)電耦合系數(shù)等參數(shù)。

華測(cè)儀器-壓電材料靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀測(cè)試原理：

1、5—加壓裝置絕緣座        2、4—加壓裝置引出電極

3—試樣               C—并聯(lián)電容器    

K—短路開關(guān)             6—靜電計(jì)          

三、華測(cè)儀器-壓電材料靜態(tài)壓電系數(shù)測(cè)試儀參考標(biāo)準(zhǔn)：

GB3389.4-82《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33的靜態(tài)測(cè)試》

GB/T3389.5-1995《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 圓片厚度伸縮振動(dòng)模式》

GB3389.4-1982《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 柱體縱向長度伸縮振動(dòng)模式》

GB/T 3389.7-1986《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 強(qiáng)場(chǎng)介電性能的測(cè)試》

GB/T3389.8-1986《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 熱釋電系數(shù)的測(cè)試》

四、華測(cè)儀器-壓電材料靜態(tài)壓電系數(shù)測(cè)試儀參數(shù)規(guī)格：

五、儀器優(yōu)點(diǎn)：

■ 采用RAM嵌入式開發(fā)平臺(tái)

■可以進(jìn)行在線升級(jí)、遠(yuǎn)程協(xié)助及故障診斷；

■ 集成10.1"電容觸摸寬屏顯示，軟件操作更加流暢，體驗(yàn)感更好；

■ 高溫爐、測(cè)量夾具、顯示及軟件集成于一體

■ 測(cè)量精度會(huì)高，儀器穩(wěn)定且易維護(hù)；

■ 實(shí)現(xiàn)常溫、高溫、真空、流動(dòng)氣氛等多環(huán)境下測(cè)試

五、華測(cè)儀器-壓電材料靜態(tài)壓電系數(shù)測(cè)試儀壓電模塊測(cè)試功能：

電容-電壓曲線、損耗曲線；

壓電性能測(cè)試（蝴蝶曲線、d33曲線）；

熱釋電性能測(cè)試；

e31、h31測(cè)試；

靜態(tài)加載力條件下的測(cè)試；

測(cè)試范圍（D33）：2至4000pC/N；

測(cè)試頻率：20HZ-10M；

測(cè)試精度：0.05%；

測(cè)量參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Lac；

施力裝置：約4kg。